TAKANO

Wafer 外關檢查裝置 (VI Series )

設備
前段製程、後段製程
Wafer 外關檢查裝置 (VI Series )
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相關式樣及精度規格,可配合客戶需求調整。詳情請洽業務單位。
TAKANO於1987年開始獨創品牌的畫像處理設備販賣以來、不斷提升機台性能及擴大使用性、現在主力產品有「IC封裝檢察系統」「原子力顯微鏡・其他量測裝置」「FPD檢查裝置」「FLIM檢查裝置」「電池關連部材」等多數高科技產品。